2015年10月以降に開催される画像解析セミナーの紹介

開催日時:2015年10月30日(金) 10:30 ～ 17:40

開催場所 【東京】日本テクノセンター研修室

カテゴリー:電気・機械・メカトロ・設備/ソフト・データ解析・画像・デザイン
受講対象者
・３次元計測技術に関する技術者
・３次元計測技術を適用・導入検討中の技術者（経験者含む）
・リバースエンジニアリングにおいて課題を抱えている技術者 ・設備管理・保全管理部門の技術・管理者
・インフラ構造物の調査・点検に関する技術者
・プラント、機械。構造物、飛行機、船舶、建築、土木、測量、カメラ、システムほか関連企業の方

予備知識
・特に予備知識は不要です
・３Ｄ計測技術の基本知識があると全体的な理解が深まります

修得知識
・3次元計測に関わる各種ハード、ソフトの選定のしかた、効果的な導入のしかた、注意点などが分かる
・プラントや工場施設向けの計測装置の選定方法やデータ処理への展開の考え方等。さらに定量的な適用効果の考え方や３Ｄ計測技術で克服できる領域や基本的な知識
・インフラ構造物の調査・点検における、3D レーザ計測、デジタル写真測量、UAVその他画像処理の応用

開催日時:2015年11月10日(火) 10:30 ～ 17:30
開催場所 【東京】日本テクノセンター研修室
カテゴリー:化学・環境・異物対策
受講対象者
・粉粒体を扱う職業で、研究、製造、品質管理、分析を担当されており、基礎から粉粒体物性評価について学びたい方
・化学、電子部品材料、電池、印刷、高分子、触媒、医薬品、化粧品、食品などの企業の方
予備知識 特に必要ございません
修得知識 ・物性評価手法の概要知識、装置の原理、測定結果の考察力

開催日時 2015年12月22日(火) 10:30 ～ 17:30
開催場所 【東京】日本テクノセンター研修室
カテゴリー:ソフト・データ解析・画像・デザイン
受講対象者
・画像解析部門の研究者、技術者、管理職、リーダの方
・これから業務(研究・開発・検査・分析)で画像解析を必要とされる方
・画像解析の改善について業務上、検討・決定・判断が必要なリーダ層の方
予備知識 ・特に必要ありません
修得知識
・画像解析の基礎知識
・画像解析を行う上で重要な画像処理技術の基礎知識
・画像情報の変換：
画像のコントラスト変換、ノイズ除去、ヒストグラム変換、二値化など
・特徴量の抽出：
パターンマッチング、ラベリング、エッジ検出、円フィッティング、領域分割など
・画像処理技術をどのように組み合わせ、必要な情報・結果を導き出すのかの手法
・画像解析の自動化手法にどのようなものがあるか、およびそれらの特徴

<参考URL>

日本テクノセンター